岩石之光薄片(製備方法)	包埋樣本	岩片
	長*寬*厚度= 46*27*1.2 (mm)	直徑約25 mm、厚度= 6mm   觀察面與底需平行	觀察面與底需平行

－ 注意事項

• 最大直徑在46mm內，最大高度10mm內。

• 不接受含水分、粉體、生物性、強磁性、揮發性、有毒性、腐蝕性、低熔點、高分子等物質之標本。

• 本儀器在低真空(LV)模式下不需鍍碳，若要作物體表面之觀察將使用高真空(HV)模式取得SEI影像，該模式下標本需事先鍍碳。

• 除物體表面分析實驗外，所有標本之觀察面都需拋光至0.05um。

－ 準備工作

   由於SEM取得之影像為高倍率，往往分析者將會迷失分析之位置，因此在上機前若能做好以下準備，將能確實掌握而事半功倍

• 以岩石之光薄片為例，將整個薄片用一般掃描器掃並輸出，並標示預分析之區域。

• 拍攝低倍至高倍之偏光照片(通常為平行偏光)，並在上方標示已知礦物及預分析之位置。

• 若為包埋標本與岩片仍需做到第一項。

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